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一般情况下，如检测观测值等对于检验结果和判定结论有直接影响的*手数据，尤其是当正、误信息存在本质区别(如不属同类的样品名称、不同的检验依据、对应不同要求的样品等级和规格型号、不相一致的结果结论等)、或可能导致不同(或)结果和不同的理解时，误记信息就不得以划改方式更正。(直接)划改只适用于不影响检测结果和结论、或不致引起不同理解和发生歧义的信息，如某些样品信息、检验过程步骤、计算过程的中间数值等。既然某些情况下和某些误记信息不适用直接划改，那么对误记信息的更改显然就不应仅只限于划改一种方式。此时，检验人员就应该对检验记录进行重新整理。应该强调的是，检验原始记录的重新整理必须遵循“当时进行”的原则。
检验记录的规范和整洁程度，也代表着检验机构的形象，*体现了检验人员的工作态度与工作质量。检验机构应本着严格要求和持续改进的态度和精神，对(同一份)记录中允许出现的错误信息更改次数做出限制规定，要求检验人员在记录错误信息数量*过规定时，应对检验记录重新进行整理。
按照准则及标准规定，检验信息应在检验发生的当时进行记录，不允许事后补记或追记，错误信息的更改也应该在发生的当时进行。这里所讨论的更改不适用于检验已结束和报告已发放的存档记录。
检验记录的更改应遵循“谁出错，谁更正”的原则，由记录者本人实施，不得由他人代替。工作中难免出错，但不出和少出差错，是检验人员的当然责任，也是检验工作质量控制的原则要求。一直想写一篇关于压力校验的文章。跟客户沟通问题以后，觉得有必要讲讲关于压力校验设备选择的那些事儿了。本文普及一下压力表校准方面的知识。
你有看规程，也有看师傅带你检表，很多的为什么你想过没有？比如：根据被检表选择标准器的根据是啥？为什么不能拿一块60MPa的压力校验仪检定所有0-60MPa的压力表？为什么气压泵里会进油？使用过程中为什么液压源的油会越用越少？为什么液压泵管路会堵？为什么漏压？稳压后降压速度有没有要求？这些问题你工作中经常遇到，你真的想过为什么吗？如何解决以上问题。
以下内容都是笔者根据10年压力表校准经验如有不对之处欢迎在页面评论区批评指正。书归正题，话说有一个客户，食品企业，想要自己开展压力表校准，不知从何入手，不知从何开始，那现在就以此为例就从头讲。
作为一个企业想要进行压力表校准建标，自己开展企业内部压力表自校工作，那么需要收集整理以下信息：①你上有什么信息？②企业多少块压力表？③都是什么量程的压力表？④都是什么精度等级的压力表？通常这些信息企业内部仪表台账上都有，如果没有仪表台账，你用一下午的时间去现场实地勘验统计，也能数清楚。
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越小，精度都可以达到±1mm以内，都有高速跟踪液位的表现。还有将两者结合起来的调频脉冲波型雷达，其脉冲波的载波是连续调频的。
1、雷达物位计设计选型1.1雷达物位计综述根据电磁波传播方式的不同雷达物位计可分为介质接触式与非接触式。前者电磁波在导波材料限定的空间内传播，后者在自由空间里传播。安装在自由空间里的非接触雷达，其微波信号以天线中心为轴线发射，并沿着此轴线在1个限定的锥形束角内（即半功率波束宽度，又称波束角、辐射角、散射角，有时波束角外的能量也不容忽视）推进传播，传播沿程信号以“反比于距离二次方”的速度迅速衰减。测量的关键是接收到足够能量的反射回波，并识别出有效回波。接收的回波能量Pk可用简化的雷达方程表示如下：
Pk=（Pτ×C×Gi×Gt×Gr）/R2-----------①；公式①中：Pτ为天线辐射功率；C为经验系数；Gi为由目标表面介电特性及面积决定的反射增益；Gt为天线发射效率；Gr为天线接收效率；R为天线与目标间的距离。上述参数是设计、应用雷达物位计必须考虑的重要因数。表1列出了反射回波能量的衰减与雷达物位计4参数的关系。
表1 反射回波能量的衰减与4参数的关系
测量条件 反射能量(较小:较大)
测量距离1-30m 1:1000
天线尺寸0.1-0.5m 1:600
界面状态波动-平静 1:100
介电常数1.7-80.0 1:36
一般来说，电磁波在自由空间传播的非接触雷达物位计所接收到的返回信号能量远小于它所发出能量的0.1%。采用波导体可以约束电磁波的传播空间，减少散射，大幅提高反射回波的质量，使得返回信号中的干扰性杂散信号*小，简化回波的分辨处理，从而发射功率也可以*低，故导波雷达一般都采用脉冲式工作原理。
1.2 介质接触与非接触的使用方式
接触与非接触的分类依据是雷达波传播方式的不同，介质接触即为导波，如果有必要且能够使用介质接触式测量方法，接触式为可以选择。波导体可以是仪表自带的探杆，也可以是现场制作的金属管。介质接触应用方式包括导波雷达(guidedwavedradar)，稳液井(stilling well)和旁通管(bypass pipeor external chamberor side vessel)里安装的非接触雷达(non-contacting radar or through air radarorfree-radiatingradar)或导波雷达；导波雷达探头形式有同轴、刚性杆、柔性缆，导波雷达的同轴式探头从本质上来说是小口径稳液井中心加了1根刚性探杆。与稳液井或旁通管里安装非接触雷达相比较，导波雷达物位计是一种简单的解决方案，两者目标一致。
1.2.1适宜介质接触的工况①非导电介质(1.2≤εr≤2.0，εr为相对介电常数，以下简称介电常数)考虑现场工况时，应特别注意两点：天线到被测介质间气相介电常数的分布；被测介质表面状态及其介电常数。雷达波在界面的反射率与两介质的介电性差别密切相关，有时，传输介质的导电导磁性引发的微波传播速度变化不容忽视。大部分物质介电常数大于1.4，空气或真空的介电常数为1.0，电磁波由真空或空气射向介电常数为εr时，表面反射度R，介电常数在1.0附近的介质反射率(即反射度)低，此时，非接触式雷达往往接收不到足够强度的界面反射回波。对于介电常数特别小的液化气体，**使用非接触式雷达并安装在稳液井上，好于旁通管安装，后者存在入口管线干扰，如有可能考虑在旁通管内安装稳液井(管套管)；杆式探头导波雷达安装在直径不*过150mm的稳液井或旁通管里，会获得等同于同轴探头导波雷达的较佳效果。
非接触雷达采用间接测量技术，如罐底跟踪模式，利用物位变化时罐底回波行程的改变甚至可以测量介电常数低至1.05的物料，类似的技术也用在导波雷达上。
②物料气相阻碍或吸收雷达波气相中存在使雷达波衰减的物质，如含高介电性的粉尘粉末(石墨，铁合金等)，测量距离和效果会受影响。
某些物质因自身或与空气中其他成分发生化学反应而电离成离子，从而使其气相具有微波吸收性，其气液两相介电常数的差别也减小，这样会削弱界面回波。如液的介电常数常温下(25℃)为14.9，不属于非导电介质，仍应采用稳液井上的低频非接触雷达或导波雷达物位计。固体物料堆积往往有一定的安息角，此时应考虑导波雷达。特别是粉状物料，表面疏松以及介电常数很低的塑料粒子，微波反射相当困难，且气相中严重的粉尘会在一定程度上反射回波。
③安装环境复杂容器内设备的反射会带来较大干扰，有以下几种情况：内障碍物较多，比如在非接触雷达的波束角内有液位开关或温度传感器；内有相对于雷达天线即测量参考点对称的装置，如加热盘管、隔板等；球罐和卧罐、水平圆柱形和球形储罐的罐壁及罐底会带来较大的反射干扰，可能存在因容器形状而导致多重回波所产生的干扰影响。特别是容器内障碍物太多或导波雷达的探头与障碍物太近时，应使用抗干扰能力强的同轴探头。
浮*罐一般采用稳液井，**测量时还要考虑介质气化对微波传输速度的影响。
④液面湍动及液面有泡沫液面湍动有可能引起多径反射，要避免安装在有很强涡流的地方，如搅拌或很强的化学反应处。表面的泡沫可能会吸收或反射雷达波，视泡沫的导电性而定：对于干泡沫，微波信号可以穿过，直接到达液体表面；中性泡沫可能吸收或散射微波，难以预判；湿泡沫表面会反射微波信号；当介质表面为稠而厚的泡沫时，测量误差较大或无法测量。相比而言，低频雷达穿透泡沫的能力比高频强。
采用四线制、大尺寸特殊设计天线、高频、连续调频波的非接触雷达物位计能发射接收到*强的信号，并采用功能强大的微处理器进行复杂的信号处理，可以在很大程度上应对上述四种工况，应用非接触雷达物位测量方法同样可测介电常数低至1．2的物料的液面，发挥其优势；**的干扰回波锁定及干扰抑制技术也可以很大程度上克服干扰。相比接触式测量方式，其价格昂贵。
⑤界位测量导波雷达的低频波穿透性强，无发散角，回波*强，使其不仅适合测量气液(气固)两相的界面，还可以测量介电常数相差大的上层非导电与下层导电液体的界位。典型应用是油水界位测量，但需注意介电常数对电磁波速度的影响，上层物料的介电常数必须**输入雷达，液界位已知时则可反算介电常数。
1.2.2 不宜接触介质的情况使用介质接触测量方法就意味着放弃了非介质接触式测量的优点，以下情况应使用非接触测量方法：
①高黏度、严重沉积和结晶的介质污染物或沉积物容易积聚在探头或稳液井内壁上。薄的、均匀的积聚物对测量有轻微的影响；厚的积聚物会造成信号衰减并减小测量范围；厚重、不均匀的粘附物形成结疤处有可能被错误地评定为界位，导致不正确的测量。相对来说，同轴探头与双探头抗干扰的能力较强，也较容易受挂料的影响。该种情况下，应采用非接触式测量方法。注意此时一般有加热盘管、搅拌叶片、搅拌产生的泡沫漩涡、湍动液面、物料挥发、蒸汽等不利测量的因素存在，这些都是非接触雷达选型安装时要着重考虑的。
②探头容易损伤的场合容器内安装搅拌器，有时搅拌器会对探头产生较大机械负载的场合，横向切应力可能会折断探头，需要机械支架或者安装应用稳液井和旁通，确认是否采用非接触式测量仪表*合适；具有强研磨作用的固体块料，如铁氧体，会磨损导波雷达的探头，降低探头的张力负载，也容易损伤探头。
1.3 非接触雷达的高频与低频频率影响决定不了精度，精度受雷达信号发射接收方式及回波处理算法的影响。
1.3.1高频的优势高频雷达物位计具有能量集中的特点，应用小尺寸的天线就能获得小波束角和大的天线增益。天线有“孔径”和汇聚效应，以普通锥形天线为例，天线尺寸(圆锥天线直径D)和频率也决定了散射(波束)角的大小，波长λ越短，波束角越小，增益越大，能量*强*集中，量程*大。如6.3G雷达天线尺寸为150、200、250mm时，散射角约为23°、19°、15°；26G雷达天线尺寸为40、50、80、100mm时，散射角约为23°、18°、10°、8°。故高频雷达物位计适合形状狭高的储罐，能避开复杂结构罐中的干扰。
测量散料时，回波主要来自粗糙料面的漫反射，漫反射的强度与物料大小成正比，与波长成反比，当反射面的线度与波长相当或*大时，才能发生反射。显然，工作频率越高，其波长越小，对于颗粒较小的物料，*易于发生漫反射，而大部分散料的直径远小于50mm，故高频雷达是散装料物位测量的较佳选择，较小的波长可以较大程度保发射出去的雷达波能够在粗糙的固体表面反射回雷达探头。
1.3.2低频的特点高频波穿透介质时，表现*强的散射性，测量空间有粉尘或蒸汽时，散射损失的能量较多，气体的谐振会对某些频率的微波产生选择性的吸收和散射，空气中的氧和水蒸气在K波段存在显著的吸收波峰，故高频并不总是较佳选择。
低频雷达抗天线挂料和冷凝物的能力强，它较大的波束角和较长的波长使之在液面湍动的情况下能提供较好的回波。低频雷达穿透泡沫的能力也强于高频，受沸腾表面影响小，表面沸腾、冒泡、趋于生成泡沫时，低频*合适。
1.4 非接触雷达的天线天线是雷达物位计的关键部件，天线的材质、形状和尺寸决定雷达波的聚焦和灵敏度。
①圆锥天线与管状天线圆锥与管状天线采用不锈钢、哈氏合金或钽等材质，具有聚焦特性优异、物理及化学特性稳定、耐用牢固等优点，适用于绝大多数场合。两种天线形状近似，同口径的管状天线*长，聚焦性*强，有些管状天线是专门为管内安装设计的，套管及近管壁适应性*好。
圆锥天线整体包覆PTFE、陶瓷或其他耐腐蚀绝缘材料，做成密封天线，会显著提高其化学稳定性、抗凝水及抗粘附能力，尤其适用于尺寸小的高频天线。一体化垫片法兰天线，即所谓法兰下置型天线就属于这一类，其圆锥内藏，本质是放置在一块高分子绝缘材料板后面的喇叭口天线，板一般呈倒三角锥形，由于微波可穿透，又称为“窗”，主要用于强腐蚀性或卫生程度要求很高介质的液位测量。
②绝缘杆天线绝缘杆天线又称杆式天线、卫生型天线，一般由PPS，PTFE等化学高分子材料制成，化学特性稳定，特别适用于强腐蚀性介质或卫生程度要求很高的场合。其冷凝物自流除，易清洗；冷凝水积聚及介质粘附的敏感程度要小于喇叭口天线，这是因为杆式天线有效发射电磁波的面积要远大于喇叭天线(后者馈源只有笔尖大小)；其天线的安装接管尺寸小，特别是带有金属屏蔽管的天线可适应*细的安装接管，可在小管径及有冷凝和粘附的安装短管内进行可靠测量，多用于C，X波段雷达，一般发射波束角大，信噪比小，常用于测量条件较好的卫生型、腐蚀性介质的测量。相比其他种类天线，绝缘杆天线抗荷能力差，受力会有变形或折断的危险。
③水滴型天线水滴型天线采用水滴形宽带振子作为馈源，尤其适合连续调频波雷达。水滴型天线雷达物位计目前德国科隆和云南昌晖仪表比较有代表性，材质为PP或PTFE等化学高分子材料，椭圆形的结构，表面光滑，不易挂料，容易自清洁。在与锥形天线尺寸同等的情况下，水滴型天线的波束角*小，K波段天线尺寸为80、150mm时，散射角分别为8°、4°，但机械强度弱于锥形天线。
④抛物面天线抛物面反射器与焦点处的馈源两部分组成短背射抛物面天线，波束角可以做到4°或*小，能量集中，干扰回波少，量程*大，适用于测量低介电常数的料面，可用于狭长储罐。其天线尺寸同样在C，X，K三波段依次减小，如6.3时，尺寸为450mm的天线可获得7°的波束角；26G时，尺寸为200mm天线可获得4°的波束角。大尺寸抛物面天线的低频雷达物位计在严重结垢结焦、挂料、蒸汽、冷凝的场合中应用有良好效果对污染较不敏感，几乎免维护，但拆装不便。
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