3D形貌测试仪实际应用
对无缺陷生产来讲，自动光学检查（AOI）是必不可少的。在转到使用无铅工艺时，制造商将面临新的挑战，在生产中会出现其他的问题，引起了人们的关注。本文分析转到无铅工艺的整个过程，特别是在大规模生产中引进了0402无铅元件。由于缺乏无铅元件，转到使用无铅元件是分阶段进行的。在2004年，由于要求电子产品的体积越来越小，迫使制造商广泛地用0402元件来取代0603元件和0805元件。
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全新误差补偿法可提升三维形貌测量精度
合肥工业大学卢荣胜团队提出一种全新的反向误差补偿方法，克服了现有条纹投影相移三维形貌测量技术受测量环境等因素影响较大、需要提前标定等问题，实现了物体三维形貌测量的精度和效率的大幅提升，在智能制造、逆向工程、生物医学等领域具有广阔应用前景。该成果近日发表于《光学学报》。
研究发现，三维形貌测量价格，在向被测物体投影与高频率相同且具有一定相移量的补偿相移条纹时，获得的两幅主值相位图中相位误差存在大小相等、方向相反的特性。利用这一特性，研究人员提出了一种在主值相位图中进行相位误差补偿，并结合多频相移获得相位的反向误差补偿方法。该方法仅需要多投射一幅与高频率相同的补偿条纹图，通过反向互抵消除系统非线性误差，获得高精度的相位值，无须提前标定系统的相位误差，在大幅提升测量精度的同时，显著缩短了测量时间。
实验结果表明，该方法所需采集的图像数目减少37.5%，极大地减小了后续相位解包裹的运算量。同时，还解决了被测物体表面有空洞、阶梯状、阴影或者空间不连续导致的相位跳变难题，避免了物体复杂轮廓可能导致的高频条纹极数混跌。在测量环境发生变化时，不再需要对测量系统进行重新标定，在测量过程中不易受环境因素干扰。
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3D形貌测试仪结论
作为惯例，在生产中，测试系统应当根据生产批量的要求建立并优化。实际运作中无数次地证明，仅这样做是远 远不够的。如果在两周的生产时间内要测试一个新批次的PCB，有可能会发生这样的情况：ELKO的颜色突然由黑色变为了黄色，或者晶体管的引脚变短了、是弯的；或是电阻的颜色由黄色变成了蓝色的，等等。AOI检查程序必须而且能够处理这些不同的变化所带来的问题。但是，其中的一些变化需要花费时间进行处理， 因为我们不能预先知道是否有一种新的元器件被使用，或是存在一个错误的元器件布局。同时，面对质量方面的困 难，大量允许的可能出现的情况也需要一个一致的，确实可行的说明。始终采用同样的材料和产品，再加上优化的PCB设计， 正如上面所描述的那样，可以减小由于产品的变更对AOI/AXI测试所造成的影响。在这里必须指出，比照所有用于 AOI和AXI 检查的标准，PCB布局的建议可使检查工艺适当简化并更有效率。DFT可以提高缺陷的检查率，减少误报， 缩短编程时间和降低编程的难度，从而Zui终达到有效降低产品制造成本的目的。
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